Практический семинар «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение»

Дата проведения

3 марта 2020 года

Место проведения

Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2

3 марта 2020 года ООО «Остек-Электро» приглашает принять участие в бесплатном семинаре «Контроль качества изготовления радиоэлектронной и микроэлектронной продукции по электрическим параметрам. Примеры оснащения предприятий, метрологическое и технологическое обеспечение».

На семинаре будет рассмотрен широкий круг вопросов:

  • Универсальные и лабораторные средства измерения (КИП).
  • Оснастка и приборы для входного контроля РЭА (выявление контрафакта).
  • Зондовые станции и установки для измерения электрофизических параметров материалов.
  • ЭМС и антенные измерения (безэховые камеры и их оснащение).
  • Внутрисхемное тестирование системами с «летающими пробниками» SPEA.
  • Функциональное тестирование собранных печатных узлов.
  • Технология периферийного сканирования JTAG.
  • Тестирование кабельно-жгутовой продукции.

Мероприятие будет проходить в формате практического семинара. Вы сможете обсудить прикладные задачи, с которыми приходится сталкиваться каждому современному специалисту, получить консультации наших экспертов по любой проблеме, возникающей при производстве электронной техники.

Количество мест ограничено!

Дата и время проведения: 3 марта с 9:45 до 17:00.

Начало регистрации: 9:00.

Место проведения: Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2.

Вы можете зарегистрироваться на участие в семинаре любым из представленных ниже способов:

  • по электронной почте*: info@ostec-group.ru, Pronskikh.A@ostec-group.ru
  • по телефону: +7 (495) 788-44-44;
  • заполнив регистрационную онлайн-форму внизу страницы.

*Необходимо указать: название семинара, дату проведения, Ф.И.О., должность, название предприятия, город и контактный телефон.

Заявки на участие принимаются до 27 февраля 2020г.

Программа семинара 3 марта 2020

Время

Наименование

Докладчик

9:00 — 9:45

Регистрация участников, утренний кофе

9:45 — 10:45

Электрическое тестирование компонентов и изделий.

Подходы к электрическому тестированию.

Насонов Андрей, технический директор ООО «Остек-Электро»

10:45 — 11:15

Принципы организации входного контроля на предприятиях, производящих РЭА:

  • Проблема брака и контрафакта. Предпосылки организации входного контроля;
  • Типовые методы контроля компонентов. Нормативная база. Приборы и оборудование;
  • Мировой опыт взаимодействия с поставщиками компонентов.

Насонов Андрей, технический директор ООО «Остек-Электро»

11:15 — 12:15

Сферы применения периферийного сканирования в современных российских условиях: тестирование, программирование, входной контроль микросхем. Работа с отечественной ЭКБ.

Иванов Алексей, руководитель JTAG Technologies Russia

12:15 — 13:00

Обед

13:00 — 14:15

Решения для организации тестирования изделий микроэлектроники

  • Проведение функционального и параметрического контроля полупроводниковых приборов на пластине с помощью зондовых станций;
  • Автоматизированные системы для измерения электрофизических параметров материалов: удельное и поверхностное сопротивление, ТКС. Стандартные образцы для проведения калибровки оборудования;
  • Оценка уровня надёжности полупроводниковых приборов на основе измерения фликкер-шума.

Васильев Игорь, руководитель Направления микроэлектроники ООО «Остек-Электро»

14:15 — 15:30

Решения для входного контроля ЭКБ:

  • Универсальные рабочие места входного контроля;
  • Рабочее место контроля мощных полупроводниковых приборов;
  • Рабочее место контроля полупроводниковых приборов;
  • Рабочее место контроля пассивных компонентов.

Решения для контроля электротехнической продукции:

  • Обзор решений для контроля электротехнических изделий;
  • Разработка технологической оснастки, опыт из практики;
  • Примеры построения рабочих мест контроля жгутов.

Шейхо Антон, заместитель генерального директора по производству ООО «Остек-Электро»

15:30 — 16:00

Кофе-брейк

16:00 — 16:30

Технология сигнатурного анализа для локализации неисправных компонентов:

  • Возможности применения сигнатурного анализа для безопасного электрического тестирования компонентов и локализации неисправных электронных компонентов;
  • Примеры из практики по обнаружению неисправных электронных компонентов;
  • Машинное зрение — необходимая технология 21-го века.

Артем Малахов, руководитель проектов ЦИФ МГУ

16:30 — 17:00

Ответы на вопросы, решение текущих задач, работа в демозале

При возникновении вопросов обращайтесь к специалисту коммерческой группы Пронских Алексею Олеговичу по электронной почте: Pronskikh.A@ostec-group.ru или по телефонам: +7 (495) 788-44-44, (доб.: 5464), моб. телефон: +7 (915) 210-40-32.

Будем рады видеть вас и ваших коллег в числе участников семинара!


Схема проезда

Москва, ул. Молдавская, д. 5, стр. 2

Заявка на участие

ФИО
Должность
Организация
Контактный телефон
Электронный адрес

или Добавить еще участника