В настоящее время в международных стандартах огромное внимание уделяется влиянию скорости термоциклирования на жизнеспособность паяных соединений печатных узлов. В данной статье описываются результаты исследований паяных соединений BGA и QFP корпусов микросхем, подвергавшихся воздействию циклического изменения температуры при различных скоростях.