Системы автоматической оптической инспекции (АОИ) приобретают все большую популярность у отечественных производителей электронного оборудования. В отличие от серийных производств, где АОИ уже давно, производители спецтехники и другие предприятия, имеющие небольшие объемы выпуска, в последнее время все больше задумываются об автоматизации операции контроля. Это связано с продолжающейся миниатюризацией элементной базы, повышением плотности монтажа и снижением шага между выводами микросхем. В таких условиях проводить традиционный визуальный контроль становится все сложнее даже с использованием микроскопов с высоким увеличением.