23 декабря 2014
Автор и должность
Игорь Проказов, старший инженер
Отдел
отдел технической поддержки и разработки Направления технологий контроля
Email
Издание
Вектор Высоких Технологий №8 (13) 2014)
Метод рентгеновского контроля печатных узлов и электронных компонентов широко применяется на предприятиях радиоэлектронной промышленности. Однако вопрос о том, может ли данный метод нанести ущерб полупроводниковым компонентам, до сих пор остается открытым. В статье мы постараемся ответить на него, а также дать практические рекомендации по использованию рентген-контроля в контексте исследования полупроводниковых изделий.